2025慕尼黑上海光博会圆满落幕，集萃中科光电以卓越的技术实力和创新产品展示，成为展会焦点之一。我们不仅展示了最新的光电技术成果，更通过媒体及论坛，与行业同仁共话未来。以下是本次展会的精彩回顾：

在E7馆7257展台，集萃中科光电展示了多款自主研发的光电测量仪器与解决方案，展台前人流如织，众多行业专家、客户及合作伙伴纷纷驻足交流，对公司的技术实力和产品性能给予了高度评价。

此次展出的核心产品包括白光干涉仪、反射膜厚仪、光谱椭偏仪、影像测量仪，充分展现了集萃中科光电在光电技术领域的深厚积累与创新能力。

展会期间，公司总经理吴碧琳和副总尤毅分别受邀参加媒体仪器信息网及化工仪器网采访，分享了集萃中科光电的发展历程、技术创新及未来战略布局。

吴碧琳总经理对记者说，公司自成立以来，始终专注于光电技术的研发与应用，致力于为客户提供高精度、高效率的测量解决方案。还重点介绍了公司核心产品的特点与应用场景。她表示，集萃中科光电的产品还能根据客户需求提供定制化解决方案，帮助客户提升生产效率、降低运营成本。

在技术创新方面，尤毅经理强调，集萃中科光电始终坚持以研发为核心驱动力，不断突破技术瓶颈，为半导体、新能源等行业提供了强有力的技术支持。谈及未来，他表示集萃中科光电将继续加大研发投入，聚焦光电技术的创新与应用，公司将携手行业伙伴，共同推动产业高质量发展。

在3月12日举办的光学微纳检测技术论坛上，集萃中科光电精测事业部部长代成伟发表了题为《光电测量技术在半导体行业中的应用》的主题演讲，深入探讨了光电量测技术在半导体领域的重要作用及未来发展趋势。

代成伟部长指出，光电量测技术凭借高灵敏度、高精度及非接触式测量等优势，在半导体领域扮演着至关重要的角色。在半导体检测环节，其可精准测定材料的厚度、折射率与杂质浓度，为材料质量把控提供关键数据，确保符合生产要求。在半导体加工阶段可以测量晶圆的粗糙度、面型以及微观形貌。随着半导体产业向更小尺寸、更高性能发展，光电量测技术也在持续创新。代成伟部长强调，集萃中科光电始终致力于研发更先进的光电量测技术，不断满足半导体产业日益严苛的量测需求，助力半导体制造工艺迈向新高度，推动产业实现高质量发展。

此次慕尼黑上海光博会不仅是一次行业盛会，更是集萃中科光电展示实力、拓展合作的平台。我们感谢每一位莅临展台的观众、合作伙伴及媒体朋友，您的支持与认可是我们前行的动力。未来，集萃中科光电将继续以技术创新为驱动，聚焦光电技术的研发与应用，携手行业伙伴，共同推动光电技术的进步与产业升级，为全球产业发展贡献力量！