紧凑型反射式膜厚仪测量系统，初学者也能轻松上手解析，单点对焦并测量耗时1秒内完成，支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析。用于表征介质保护膜、半导体薄膜、玻璃镀膜等各种样式薄膜膜厚的光学计量专业化工具。